Przedmiotem zamówienia jest zakup zestawu nadążnych interferometrów laserowych. Minimalne wymagania metrologiczne i funkcjonalne systemu 1. Wymagania dotyczące aparatury pomiarowej a. System musi składać się z co najmniej czterech nadążnych interferometrów laserowych umożliwiających pracę w układzie multilateracyjnym. b. Każdy z interferometrów musi realizować pomiar długości w oparciu o interferometrię laserową, zapewniającą bezpośrednie odniesienie do długości fali światła. c. Rozdzielczość pomiaru długości nie może być gorsza niż 1 nm. d. System musi umożliwiać realizację pomiarów w objętości przestrzennej o zasięgu co najmniej 20 m. e. Masa pojedynczego interferometru nie może przekraczać 10 kg, co umożliwia mobilną konfigurację systemu i elastyczne rozmieszczenie w przestrzeni pomiarowej oraz montaż na konstrukcji posiadanych CMM. f. Interferometry muszą być wyposażone w aktywne układy śledzenia (głowice nadążne), umożliwiające automatyczne podążanie za reflektorem pomiarowym. 2. Wymagania funkcjonalne systemu a. System musi umożliwiać ciągłe śledzenie reflektora pomiarowego w przestrzeni trójwymiarowej, niezależnie od kierunku jego ruchu (przy zachowaniu orientacji reflektora w stronę interferometru). b. System musi umożliwiać realizację pomiarów dynamicznych w trybie On‑The‑Fly, pozwalając na wyznaczanie współrzędnych punktów w trakcie ruchu. c. System musi umożliwiać pracę w konfiguracji redundantnej (multilateracyjnej) oraz rozwiązywanie układu równań nadokreślonych. d. System musi zapewniać możliwość wyznaczania współrzędnych punktów w przestrzeni wyłącznie na podstawie pomiarów długości, bez wykorzystania pomiarów kątowych. e. System musi być przystosowany do współpracy z współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi, w szczególności klasy PMM (np. Hexagon/Leitz – będących na wyposażeniu Zamawiającego), umożliwiając realizację procedur wzorcowania i weryfikacji. f. System musi umożliwiać zastosowanie w badaniach nad dokładnością pozycjonowania maszyn, robotów przemysłowych oraz innych systemów mechatronicznych. 3. Wymagania dotyczące oprogramowania i przetwarzania danych a. System musi być wyposażony w oprogramowanie umożliwiające wyznaczanie współrzędnych 3D w czasie rzeczywistym na podstawie danych z co najmniej czterech interferometrów. b. Oprogramowanie musi umożliwiać integrację danych pomiarowych oraz obsługę algorytmów multilateracji, w tym metod numerycznych (np. metoda najmniejszych kwadratów). c. System musi umożliwiać eksport danych do zewnętrznych systemów metrologicznych oraz ich integrację z oprogramowaniem wykorzystywanym w analizie pomiarów. d. Preferowana jest możliwość pracy w trybie online (sprzężenie rzeczywiste) lub alternatywnie w trybie półautomatycznym z wykorzystaniem automatycznego przetwarzania danych wsadowych. e. Oprogramowanie musi umożliwiać analizę jakości danych pomiarowych, w tym ocenę niepewności oraz identyfikację błędów. 4. Wymagania metrologiczne i aplikacyjne rozszerzone a. System musi zapewniać pełną spójność metrologiczną (traceability) z układem jednostek SI poprzez wykorzystanie interferometrii laserowej. b. System musi umożliwiać identyfikację oraz kompensację wpływów środowiskowych, takich jak temperatura, ciśnienie oraz wilgotność. c. System musi umożliwiać zastosowanie w procesach wzorcowania, weryfikacji i monitorowania dokładności współrzędnościowych systemów pomiarowych różnych typów. d. System musi umożliwiać wykorzystanie reflektorów pomiarowych o szerokim kącie pracy (np. do ~160°), zapewniających stabilność śledzenia w dużych objętościach pomiarowych. e. System musi umożliwiać prowadzenie badań nad niepewnością pomiarów oraz walidację modeli metrologicznych.

Zakup zestawu nadążnych interferometrów laserowych

Przedmiotem zamówienia jest zakup zestawu nadążnych interferometrów laserowych. Minimalne wymagania metrologiczne i funkcjonalne systemu 1. Wymagania dotyczące aparatury pomiarowej a. System musi składać się z co najmniej czterech nadążnych interferometrów laserowych umożliwiających pracę w układzie multilateracyjnym. b. Każdy z interferometrów musi realizować pomiar długości w oparciu o interferometrię laserową, zapewniającą bezpośrednie odniesienie do długości fali światła. c. Rozdzielczość pomiaru długości nie może być gorsza niż 1 nm. d. System musi umożliwiać realizację pomiarów w objętości przestrzennej o zasięgu co najmniej 20 m. e. Masa pojedynczego interferometru nie może przekraczać 10 kg, co umożliwia mobilną konfigurację systemu i elastyczne rozmieszczenie w przestrzeni pomiarowej oraz montaż na konstrukcji posiadanych CMM. f. Interferometry muszą być wyposażone w aktywne układy śledzenia (głowice nadążne), umożliwiające automatyczne podążanie za reflektorem pomiarowym. 2. Wymagania funkcjonalne systemu a. System musi umożliwiać ciągłe śledzenie reflektora pomiarowego w przestrzeni trójwymiarowej, niezależnie od kierunku jego ruchu (przy zachowaniu orientacji reflektora w stronę interferometru). b. System musi umożliwiać realizację pomiarów dynamicznych w trybie On‑The‑Fly, pozwalając na wyznaczanie współrzędnych punktów w trakcie ruchu. c. System musi umożliwiać pracę w konfiguracji redundantnej (multilateracyjnej) oraz rozwiązywanie układu równań nadokreślonych. d. System musi zapewniać możliwość wyznaczania współrzędnych punktów w przestrzeni wyłącznie na podstawie pomiarów długości, bez wykorzystania pomiarów kątowych. e. System musi być przystosowany do współpracy z współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi, w szczególności klasy PMM (np. Hexagon/Leitz – będących na wyposażeniu Zamawiającego), umożliwiając realizację procedur wzorcowania i weryfikacji. f. System musi umożliwiać zastosowanie w badaniach nad dokładnością pozycjonowania maszyn, robotów przemysłowych oraz innych systemów mechatronicznych. 3. Wymagania dotyczące oprogramowania i przetwarzania danych a. System musi być wyposażony w oprogramowanie umożliwiające wyznaczanie współrzędnych 3D w czasie rzeczywistym na podstawie danych z co najmniej czterech interferometrów. b. Oprogramowanie musi umożliwiać integrację danych pomiarowych oraz obsługę algorytmów multilateracji, w tym metod numerycznych (np. metoda najmniejszych kwadratów). c. System musi umożliwiać eksport danych do zewnętrznych systemów metrologicznych oraz ich integrację z oprogramowaniem wykorzystywanym w analizie pomiarów. d. Preferowana jest możliwość pracy w trybie online (sprzężenie rzeczywiste) lub alternatywnie w trybie półautomatycznym z wykorzystaniem automatycznego przetwarzania danych wsadowych. e. Oprogramowanie musi umożliwiać analizę jakości danych pomiarowych, w tym ocenę niepewności oraz identyfikację błędów. 4. Wymagania metrologiczne i aplikacyjne rozszerzone a. System musi zapewniać pełną spójność metrologiczną (traceability) z układem jednostek SI poprzez wykorzystanie interferometrii laserowej. b. System musi umożliwiać identyfikację oraz kompensację wpływów środowiskowych, takich jak temperatura, ciśnienie oraz wilgotność. c. System musi umożliwiać zastosowanie w procesach wzorcowania, weryfikacji i monitorowania dokładności współrzędnościowych systemów pomiarowych różnych typów. d. System musi umożliwiać wykorzystanie reflektorów pomiarowych o szerokim kącie pracy (np. do ~160°), zapewniających stabilność śledzenia w dużych